Физики разработали метод для точной съемки магнитных наноструктур

❋ 4.7

Ученые разработали новый метод визуализации магнитных наноструктур. Он обеспечивает разрешение около 70 нанометров, в то время как обычные оптические микроскопы достигают разрешения около 500 нанометров.

Физика

# аномальный эффект Нернста

# лазер

# микроскопия

# наноструктуры

# Спинтроника

Экспериментальная установка / © Uni Halle / Marco Wamurth

Разрешение обычных оптических микроскопов ограничено длиной волны света, из-за чего объекты размером менее 500 нанометров остаются неразличимыми.

Методика, разработанная учеными из Университета Мартина Лютера в Галле-Виттенберге (MLU) и Института физики микроструктур общества Макса Планка, Германия, преодолевает это ограничение. Физики использовали аномальный эффект Нернста (anomalous Nernst effect, ANE) и специальный наноразмерный металлический наконечник зонда микроскопа чтобы добиться высокого разрешения.

Аномальный эффект Нернста генерирует электрическое напряжение в магнитном материале, перпендикулярное магнетизации и градиенту температуры в образце. Исследователи решили, что это можно использовать.

Детальная схема эксперимента и исследуемой области, изображения с Керр-микроскопа и полученные с помощью ANE. © *ACS Nano* (2024). DOI: 10.1021/acsnano.4c09749

Ученым пришлось создать одновременно нагрев как можно более маленького участка образца и электромагнитное поле в той же области. В этих условиях ANE генерирует напряжение, а уже его ученые измерили и, сопоставив все данные об исследуемой области, сформировали изображения.

«Мы смогли сфокусировать луч лазера на наконечнике кантилевера атомно-силового микроскопа, и таким образом создали температурный градиент на поверхности образца, ограниченный нанометровой областью. Металлический наконечник стал работать как антенна, фокусируя электромагнитное поле в крошечной области под своим кончиком», — объясняет профессор Георг Вольтерсдорф (Georg Woltersdorf).

Эта методика позволяет проводить измерения ANE с гораздо более высоким разрешением, чем это возможно при использовании традиционной оптической микроскопии. Исследовательская группа продемонстрировала изображения, полученные с помощью нового метода, с разрешением около 70 нанометров.

Предыдущие исследования изучали только магнитную поляризацию в плоскости образца. Однако, по словам исследовательской группы, температурный градиент в плоскости также имеет решающее значение и позволяет исследовать внеплоскостную поляризацию с помощью измерений ANE. Чтобы закрыть этот пробел и продемонстрировать надежность метода ANE для визуализации магнитных структур в нанометровом масштабе, исследователи использовали магнитную вихревую структуру.

Магнитный вихрь представляет собой конфигурацию магнитных моментов в материале, при которой направления намагниченности закручиваются вокруг центральной точки, формируя вихревое распределение.

Важное преимущество новой техники — ее можно использовать с хиральными антиферромагнитными материалами. Это особый класс магнитных материалов, у которых магнитные моменты атомов упорядочены антипараллельно, как в обычных антиферромагнетиках, но дополнительно проявляется хиральность — закрученность или асимметрия в их магнитной структуре. Хиральные антиферромагнетики активно изучаются для применения в спинтронике, квантовой электронике и сенсорике, поэтому ученым важно видеть объекты из этих материалов в деталях.

Работа опубликована в журнале ACS Nano.

Нашли опечатку? Выделите фрагмент и нажмите Ctrl + Enter.