#терагерцовое излучение

Ученые из МФТИ и МГУ научились создавать нанокерамику из редкой модификации оксида железа III и изучили ее магнитные свойства. Она показала уникальную устойчивость к размагничиванию и хорошо поглощала электромагнитные волны крайне высоких частот. Благодаря этим свойствам материал можно применять в медицинской диагностике, современных сверхбыстрых телекоммуникационных системах и для детектирования электромагнитных волн.

Ученые из Международной научно-исследовательской лаборатории «Излучение заряженных частиц» НИЯУ МИФИ, ведущие исследования в области фотоники, построили обобщенную теорию так называемого обратного комптоновского рассеяния в терминах светимости, подходящую как для классического, так и для квантового режима. Этот процесс — один из перспективных способов генерации излучения в широком диапазоне частот, от рентгеновского до терагерцового.

Физики из МФТИ создали широкополосный чувствительный к поляризации детектор терагерцового излучения на основе графена. Разработка может найти применение в системах связи и передачи информации нового поколения, а также системах безопасности и медицине.

Ученые из МФТИ совместно с коллегами из Японии и США рассчитали параметры фотоприемников из слоев графена и смеси черных фосфора и мышьяка. Такие сенсоры способны улавливать излучение с энергией меньше запрещенной зоны этих слоев без графена. Также их легко модифицировать для увеличения чувствительности к нужной длине волны света. Подобные сенсоры могут заменить любые приемники дальнего инфракрасного и терагерцового излучения.

В метро Лос-Анджелеса установили сканирующие камеры, через которые можно увидеть спрятанные у проходящих в потоке пассажиров оружие или взрывчатые вещества.

Команда ученых из MIT разработала прототип системы визуализации, которая может читать закрытые книги.

Ученые из Брауновского университета (США) разработали сплиттер для терагерцового излучения, который может лечь в основу технологии сверхскоростной беспроводной связи. Об этом пишет Scientific Reports.

Британские ученые нашли метод, позволяющий видеть сквозь полупроводниковый материал микросхем. Такой подход наверняка пригодится для производителей электроники, позволяя обнаруживать в микрочипах мельчайшие дефекты.